-
1 сканирующий туннельный микроскоп
(Scanning Tunneling Microscope)Сканирующий туннельный микроскопПрибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного токаRussian-English dictionary of Nanotechnology > сканирующий туннельный микроскоп
-
2 сканирующий туннельный микроскоп
1) Immunology: scanning tunneling microscope2) Makarov: scanning tunnel microscopeУниверсальный русско-английский словарь > сканирующий туннельный микроскоп
-
3 сканирующий туннельный микроскоп
Русско-английский биологический словарь > сканирующий туннельный микроскоп
-
4 сканирующий туннельный микроскоп
scanning tunnel microscope, scanning tunneling microscopeРусско-английский физический словарь > сканирующий туннельный микроскоп
-
5 сканирующий туннельный микроскоп
<02> scanning tunnel microscopeРусско-английский словарь Мартыневича > сканирующий туннельный микроскоп
-
6 туннельный микроскоп
[англ. tunnel — подземное (подводное) сооружение; греч. mikros — малый и scopeo — смотрю, рассматриваю, наблюдаю]микроскоп, принцип действия которого основан на регистрации тока туннельного перескока электронов (преодоление электронами запрещенной зоны, напр. промежутка между молекулами или высокого энергетического барьера), происходящего между поверхностью исследуемой молекулы и сканирующим ее острием металлической иглы. Система пьезокристаллов, управляемая компьютером, обеспечивает трехкоординатное перемещение металлического зонда на расстоянии порядка 0,1 нм от исследуемой поверхности. Между ней и зондом прикладывают напряжение около 1 В и регистрируют возникающий туннельный ток. Достоинство Т.м. заключается в сверхвысоком разрешении (атомного порядка, 10 -2 нм) и в возможности размещать образец не в вакууме (как в электронных микроскопах), а в обычной воздушной среде при атмосферном давлении, в атмосфере инертного газа и даже в жидкости, что особенно важно для изучения гелеобразных и макромолекулярных структур (белков, ДНК, РНК, вирусов) в нативном состоянии. Первый сканирующий Т.м. создан Г. Биннингом и Г. Рорером в 1981 г. (Нобелевская премия за 1986 г.).Толковый биотехнологический словарь. Русско-английский. > туннельный микроскоп
-
7 микроскоп
м.- автоэлектронный микроскоп
- акустический голографический микроскоп
- атомно-силовой микроскоп
- бинокулярный микроскоп
- биологический микроскоп
- ближнепольный микроскоп
- высоковольтный микроскоп
- голографический микроскоп
- двухзеркальный ахроматический нейтронный микроскоп
- дифракционный микроскоп
- дифракционный рентгеновский микроскоп
- зеркальный рентгеновский микроскоп
- зеркальный электронный микроскоп
- измерительный микроскоп
- изображающий рентгеновский микроскоп
- инвертированный микроскоп
- интерференционный микроскоп Цейсса - Линника
- интерференционный микроскоп
- инфракрасный микроскоп
- ионный микроскоп
- контактный рентгеновский микроскоп
- лазерно-акустический микроскоп
- лазерный микроскоп
- лазерный проекционный микроскоп
- лазерный фотоионный микроскоп
- лазерный фотоэлектронный микроскоп
- люминесцентный микроскоп
- магнитный электронный микроскоп
- металлографический микроскоп
- микроскоп для ядерных эмульсий
- микроскоп с бегущим лучом
- микроскоп сравнения
- нейтронный микроскоп
- оптический гетеродинный микроскоп
- оптический микроскоп
- осцилляционный микроскоп
- отражательный рентгеновский микроскоп
- отражательный электронный микроскоп
- полевой ионизационный ионный микроскоп
- полевой ионный микроскоп
- полевой электронный микроскоп
- полевой эмиссионный микроскоп
- поляризационный микроскоп
- проекционный микроскоп
- проекционный рентгеновский микроскоп
- просвечивающий растровый электронный микроскоп
- просвечивающий рентгеновский микроскоп
- просвечивающий электронный микроскоп
- протонный микроскоп
- растровый микроскоп
- растровый оже-электронный микроскоп
- растровый электронный микроскоп
- рентгеновский микроскоп нормального падения
- рентгеновский микроскоп скользящего падения
- рентгеновский микроскоп
- сверхвысоковольтный электронный микроскоп
- седиментационный микроскоп
- сканирующий атомно-силовой микроскоп
- сканирующий микроскоп
- сканирующий рентгеновский микроскоп
- сканирующий туннельный микроскоп
- стереоскопический микроскоп
- телевизионный микроскоп
- туннельный микроскоп
- ультразвуковой микроскоп
- ультрафиолетовый микроскоп
- фазоконтрастный микроскоп
- фотоакустический микроскоп
- фотоэлектрический микроскоп
- электронный микроскоп высокого разрешения
- электронный микроскоп
- электростатический электронный микроскоп
- эмиссионный электронный микроскоп -
8 scanning tunneling microscope
(Scanning Tunneling Microscope)Сканирующий туннельный микроскопПрибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного токаRussian-English dictionary of Nanotechnology > scanning tunneling microscope
-
9 STM
(Scanning Tunneling Microscope)Сканирующий туннельный микроскопПрибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении туннельного тока между острием и образцом. В процессе сканирования игла движется вдоль образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи и удаление следящей системы меняется в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются и на их основе строится карта высот. Ограничения на использование метода накладываются, во-первых, условием проводимости образца (поверхностное сопротивление должно быть не больше 20 МОм/см²). Во-вторых, глубина канавки должна быть меньше её ширины, потому что в противном случае может наблюдаться туннелирование с боковых поверхностей.Схема работы СТМ: а) в режиме постоянной высоты; б) в режиме постоянного тока
См. также в других словарях:
СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП — прибор для изучения поверхноститвёрдых электропроводящих тел, основанный на сканировании металлич. остриянад поверхностью образца на расстоянии . Такое расстояние достаточно мало для туннелирования электронов черезконтакт, т … Физическая энциклопедия
Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ … Википедия
сканирующий туннельный микроскоп — STM (Scanning Tunneling Microscope) Сканирующий туннельный микроскоп Прибор для изучения поверхности твердых тел, основанный на сканировании острием (иглой), находящимся под потенциалом, поверхности образца, и одновременном измерении… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope) класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом … Википедия
ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП, — ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП, см. Сканирующий туннельный микроскоп. Физическая энциклопедия. В 5 ти томах. М.: Советская энциклопедия. Главный редактор А. М. Прохоров. 1988 … Физическая энциклопедия
Растровый туннельный микроскоп — Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) система образец + игла, к которым приложена разность потенциалов. Электроны из образца туннелируют на иглу, создавая таким образом туннельный ток. Величина этого тока экспоненциально зависит от расстояния… … Википедия
СКАНИРУЮЩИЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП — прибор для изучения поверхностейтвёрдых тел с разрешающей способностью порядка межатомных расстояний, основанныйна сканировании исследуемого участка образца S(x, у )плоской пружиной … Физическая энциклопедия
ТУННЕЛЬНЫЙ ЭФФЕКТ — (туннелирование), преодоление микрочастицей потенциального барьера в случае, когда её полная энергия (остающаяся при Т. э. большей частью неизменной) меньше высоты барьера. Т. э. явление существенно квант. природы, невозможное в классич.… … Физическая энциклопедия
Микроскоп — У этого термина существуют и другие значения, см. Микроскоп (значения). Микроскоп, 1876 год … Википедия
Микроскоп оптический — Современный оптический микроскоп Микроскоп (от греч. μικρός малый и σκοπεῖν смотрю) оптический прибор для получения увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), невидимых невооружённым глазом. Содержание … Википедия
Сканирующий микроскоп — Сканирующий (растровый) микроскоп: Сканирующий зондовый микроскоп (SPM) Сканирующий атомно силовой микроскоп (AFM, SPM) Сканирующий туннельный микроскоп (STM) Сканирующий электронный микроскоп (SEM) Сканирующий емкостной микроскоп (SCM) Микроскоп … Википедия